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引腳樣件電子元器件外觀采用機器視覺檢測方案

作者 : admin發(fā)布時間 : 2022-10-17 瀏覽 : 429 次
深圳市思普泰克科技有限公司引腳樣件 視覺檢測設(shè)備 檢測案例: 一:檢測內(nèi)容及要求 檢測工件面積: 長13.09mm*寬8.83mm高5.88mm樣件的外觀&尺寸檢測 檢測內(nèi)容: 1:底部正光檢測外觀

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思普泰克智能制造科技有限公司——引腳樣件視覺檢測設(shè)備檢測案例:

一:檢測內(nèi)容及要求

 

檢測工件面積:

         長13.09mm*寬8.83mm高5.88mm樣件的外觀&尺寸檢測               

檢測內(nèi)容:            

               1:底部正光檢測外觀

               2:頂部正光檢測外觀

               

 

          

                           

注明:以上檢測項目,均需要在影像下清晰可見才能檢測

檢測效率:每分鐘檢測200-250,數(shù)量根據(jù)樣件送料速度。

分工段進行:按照檢測內(nèi)容細分檢測步驟.

 

二: 設(shè)備組成及主要機構(gòu)

 

整體構(gòu)成:尺寸:  900*800*1850  mm

1:思普泰克視覺檢測軟件

2:工業(yè)電腦

3:顯示器   19寸

4:工業(yè)相機: 2套:1個底部正光   1個頂部正光            

5:工業(yè)鏡頭:2套:2個FA工業(yè)鏡頭  

6:專業(yè)玻璃盤

7:電磁閥

8:減速機

9:振動柜

二.1: 設(shè)備外觀3D立體圖

電子元器件外觀檢測電子元器件外觀檢測

三:1 底部正光檢測方式

 

底部檢測效果原圖:

電子元器件外觀檢測

三:1  底部正光檢測方式

 

底部檢測良品分析圖:OK

電子元器件外觀檢測

三:1  底部正光檢測方式

 

底部檢測不良品(反面卡珠子)分析圖:NG

 

電子元器件外觀檢測

三:1  底部正光檢測方式

 

底部檢測不良品(反面歪腳)分析圖:NG

電子元器件外觀檢測

三:1  底部正光檢測方式

 

底部檢測不良品(毛邊)分析圖:NG

電子元器件外觀檢測

三:1  底部正光檢測方式

 

底部檢測不良品(細渣)分析圖:NG

電子元器件外觀檢測

三:2 頂部正光檢測方式

 

頂部檢測效果原圖:

引腳樣件電子元器件外觀采用機器視覺檢測方案

三:2  頂部正光檢測方式

 

頂部檢測良品分析圖:OK

引腳樣件電子元器件外觀采用機器視覺檢測方案

三:2  頂部正光檢測方式

 

頂部檢測不良品(正面歪腳)分析圖:NG

引腳樣件電子元器件外觀采用機器視覺檢測方案

四.系統(tǒng)安裝要求:

 

設(shè)備放置的檢測空間: 在流水線邊單獨安裝思普視覺檢測系統(tǒng),需要保證有足夠的空間以安裝設(shè)備。

環(huán)境溫度: 0-50攝氏度;

空氣濕度: 90% RH以下;

電子干擾: 為設(shè)備提供電子干擾較小的地方。

電源:     交流220V,50Hz,  耗電<1KVA

 

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